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GST 420 PC - 技术参数 温度范围:RT ... 1200°C 升降温速率:0.01 ... 20 K/min 样品支架:金属(螺旋夹具) 检测系统:LVDT 测量范围:5000 μm(弯曲量) 样品尺寸:长度 260 mm,宽度 12mm 左右,厚度 6mm 左右。中间约 80 mm 的部位须上釉 测量气氛:空气,静态...
发布时间: 2018 - 05 - 11
DIL 402 E - 技术参数 温度范围:-180°C ... 500°C, RT ... 1600°C, (RT) ... 550°C ... 2400°C, (RT) ... 650°C ... 2800°C (取决于不同的可自由更换的炉体类型) 升降温速率:0 ... 50 K/min(取决于炉体类型和温度范围) 样品支架:石英支架(< 1100°C),氧化铝支架(< 1700°C),石墨支架(2800°C) 测量范围:500/5000 μm 样品长度:25/50 mm 样品直径:最...
发布时间: 2018 - 05 - 11
DIL 402 Expedis Classic - 技术参数 温度范围:RT … 1600°C 升温速率:0.001 ... 50 K/min 测量系统:NanoEye(单样品,或双样品/差示系统) 样品支架:熔融石英或氧化铝,可自由更换。 温度准确度:1 K 温度精度:0.1 K m.CTE(平均线膨胀系数)重复性:10 -8 1/K 测量范围:± 5000 μm 分辨率:2 nm(全量程) 样品长度:0…52mm(自动样品长度测量) 气体控制:1 路(...
发布时间: 2018 - 05 - 11
DIL 402 Expedis Select/Supreme - 技术参数 温度范围:-180 ... 2800°C(多种炉体可选) 炉体滑轨:双炉体(常规版本。第二炉体为选配);单炉体(2800°C版本) 升温速率:0.001 ... 50 K/min 或 100 K/min(不同炉体) 测量系统:NanoEye(单样品,或双样品/差示系统) 样品支架:熔融石英或氧化铝,可自由更换。 温度准确度:1 K 温度精度:0.1 K m.CTE(平均线膨胀系数)重...
发布时间: 2018 - 05 - 11
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